Магнитные структуроскопы и их применение (применение 21)

 

Прибор может быть укомплектован датчиками с диаметром проходного отверстия от 10 до 200 мм, работающими в двух диапазонах частот: один – от 2 Гц до 1 кГц, другой – от 1 до 130 кГц. Имеются так­же и накладные датчики. Предусмотрена возможность подклю­чения   сервисных   устройств,   например   матричного   печатающего устройства, кассетного магнитофона, как для за­писи результатов, так и для ввода программ ка­либровки и установки ре­жимов контроля.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 20)

 

Основной для этого структуроскопа — проходной ВТП, возбуждаемый синусоидальным током. Если контроль проводится в слабых полях, когда нелиней­ность магнитных характеристик не сказывается, то это, по сущест­ву, обычный вихретоковый прибор с проходным преобразователем. Специфика магнитного контроля начинается только в сильных воз­буждающих полях, когда происходит насыщение материала. Ос­новной режим контроля структуроскопом «Magnatest S» – режим сильных полей, причем информативны искажения кривой напря­жения ВТП или ее гармонические составляющие, зависящие от формы кривой гистерезисного цикла.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 19)

 

Более совершенны приборы, в которых используется совокуп­ность нескольких гармоник сигнала. К ним относятся приборы типа «Magnates I» фирмы «F. Forster» (ФРГ), в которых контроль осуществляется как по основной, так и по высшим гармоникам. Приборы предназначены для НК заготовок и деталей массового производства (прутки, проволока, трубы, гайки, болты и т. д.) из ферромагнитных, неферромагнитных и аустенитных сталей. Так же как и в других приборах, возможен контроль твердости, качества термообработки, химического состава, но только при известной связи этих параметров с магнитными.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 18)

 

Особое место в магнитном контроле занимает метод высших гармоник постольку; поскольку сигнал здесь формируется так же, как в вихретоковом методе, а в качестве информативных исполь­зуются чисто магнитные величины – параметры петли гистерези­са. Именно это и позволяет отнести этот метод к магнитным. Все приборы, работа которых основана на методе высших гармоник, относятся к структуроскопам, предназначенным для контроля ка­чества термообработки ферромагнитных изделий.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 17)

 

Для контроля содержания ферритной фазы в сварных швах служит прибор МФ-10Ф. Принцип действия основан на измерении магнитной проницаемости ферромагнитного образца. Калибровка прибора производится по образцам.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 16)

 

Градуировочные   характеристики    ферритометра   показаны на рис. ЗЛИ, а. Из-за трудности подготовки образцов с заданным содержанием феррита калибровку приборов перед проведением из­мерений осуществляют с помощью образцов из магнитомягкого материала, сверху покрытых неферромагнитными прокладками, например пластмассовыми пленками различной толщины (рис. ЗЛ14, б). Изменение толщины пленки имитирует изменение содер­жания ферритной фазы Fe. Достоинство такой калибровки состо­ит в том, что здесь учитываются изменения характеристик преоб­разователя, в частности износ стержневого сердечника.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 15)

Магнитное сопротивление при полосчатом образовании феррита меньше, чем при сферическом, из-за меньшего значения размаг­ничивающего фактора. В резуль­тате выходной сигнал преобразо­вателя зависит не только от ко­личества ферритных включений, но и от их геометрии, поэтому рекомендуется проводить калиб­ровку на том материале, который предполагается контролировать. Основное мешающее влияние в ферритометрии оказывают из­менения зазора и геометрия по­верхности (край и кривизна). Из рис. 3.112, на котором показано изменение сигнала в зависимости от зазора 5, видно, что влияние изменений зазора в случае однополюсного зонда больше, посколь­ку однополюсный зонд работает в открытой магнитной цепи, а двухполюсный – в замкнутой. Кроме того, на эту зависимость влияет    содержание    феррита.  При    содержании    феррита  63% уменьшение сигнала с ростом зазора почти в два раза больше, чем при 26%-ном. По этой же причине в случае однополюсного зонда сильно влияние кривизны контролируемой поверхности и резко выражен краевой эффект (рис. 3.113).

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 14)

Для определения содержания ферритной фазы непосредственно в готовых стальных изделиях применяются ферритометры. Этот контроль важен потому, что при слишком большом содержании ферритной фазы снижается пластичность сталей и при механиче­ских нагрузках появляются трещины.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 13)

 

Более универсален прибор «СКИФ-100», представляющий ско­рее установку для исследования режимов контроля методом маг­нитных шумов. В приборе предусмотрена возможность изменения в широких пределах частоты и амплитуды намагничивающего тока; блок обработки информации позволяет измерять текущие харак­теристики сигнала и действующее значение магнитного шума в любой точке кривой намагничивания. Прибор укомплектован на­кладным и проходным преобразователями.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 12)

 

Одной из первых установок про­мышленного применения для неразрушающего контроля методом маг­нитных шумов была ИБШ-2, разра­ботанная М. Миховски в Болгарии. Установка предназначена для конт­роля структуры и степени пластиче­ской деформации тонких прутков. Разбраковка ведется по уровню магнитного шума.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 11)

 

       Выходной сигнал снимается с двух идентичных, включенных встречно измерительных катушек 3 и 4. В результате в выходном сигнале отсутствует составляющая с частотой тока возбуждения Iв, но есть случайные составляющие, представляющие магнитный шум на различных участках ОК. Эти составляющие не компенси­руются, и по их интенсивности судят о механических свойства ОК. Кроме интенсивности шумов возможно также использование статических характеристик скач­ков, таких, как распределение скач­ков по амплитуде либо по длитель­ности.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 10)

 

На рис. 3.106 показана структурная схема установки для определения парамет­ров магнитных шумов. Она включает со­леноид 1, подключенный к источнику 2 си­нусоидального тока (частотой от долей до сотен герц) через фильтр 3, предназначен­ный для подавления высокочастотных составляющих. Ферромаг­нитный объект исследования 4 помещается в соленоид. Выходной сигнал снимается с измерительной обмотки 5, охватывающей объект, и его можно непосредственно наблюдать на экране осцил­лографа 6. Он показывает характер изменения индукции в образ­це либо после фильтра нижних частот 7,  подавляющего    шумы, либо после фильтра верхних частот 8, подавляющего основ­ной сигнал и оставляющего на экране только шумы. На рис. 3.107, а показан сигнал Е из­мерительной обмотки; на рис 3.107, б – тот же сигнал на выходе фильтра нижних ча­стот; па рис. 3.107, в – на вы­ходе фильтра верхних частот. При необходимости определить спектр шумов вместо фильтра ниж­них частот используют набор узкополосных фильтров,

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 9)

 

Метрологическая поверка приборов импульсно-локального типа проводится без образцов, для чего используется поверочное сред­ство – мера МГП-2 градиента магнитного поля, которая позво­ляет в линейном приближении воспроизводить закономерности изменения остаточного поля над поверхностью О К, т. е„ создавать регулируемый градиент магнитного поля.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 8)

 

  Важным преимуществом импульсного преобразователя явля­ется существенно более слабая зависимость сигнала от размера зазора. При увеличении амплитуды намагничивающих импульсов значения в точках А и В резко возрастают, достигают насыщения и не зависят от изменений зазора в широких пределах. При изме­нении зазора от 0 до 2 мм погрешность не превышает 2% на каж­дые 0,1 мм

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 7)

Коэрцитиметр «Koerzimat 1.095», разработанный в Институте Фёрстера (ФРГ), укомплектован соленоидом и приставным элек­тромагнитом, имеет диапазон измерения от 0 до 100 кА/м.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 6)

 

Устройство коэрцитиметра, работающего по методу сдергивания, наиболее просто. Такой коэрцитиметр целесообразно исполь­зовать только как простейшее устройство для предварительной оценки коэрцитивной силы. Из рис. 3.101 видно, что если катуш­ка 3 перемещается в отсутствие объекта контроля 1 в однородном поле, создаваемом катушкой 2, то эдс в ней не наводится и индикатор 4 дает нулевые показания. Присутствие намагничен­ного объекта 1 приводит к появлению эдс в катушке 3 при сдергивании последней с объекта до тех пор, пока он не будет раз­магничен встречным полем катушки 2. По напряженности этого поля судят о коэрцитивной силе ОК.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 5)

На рис. 3.99 показано устройство коэрцитиметра с активным индукционным преобразователем, иногда называемым измеритель­ным генератором. Объект контроля 1 намагничивают с помощью катушки 2 (или помещают в катушку уже намагниченным.) Ка­тушка активного индукционного преобразователя 3 приводится во вращение двигателем 4, и возникающая в ней эдс измеряется ин­дикатором 5. Оси катушки 2 и 3 взаимно перпендикулярны, по­этому магнитное поле, создаваемое катушкой I, не приводит к возникновению в катушке 3 эдс, которая определяется только по­лем, создаваемым объектом контроля. Для измерения коэрцитив­ной силы ОК. по катушке I пропускают ток, создающий размаг­ничивающее поле для ОК. При напряженности этого поля, до­стигающей значения Hс, ОК полностью размагничивается. В ре­зультате магнитный поток, ортогональный оси катушки 7, исчеза­ет и эдс в катушке становится равной нулю. По силе тока в ка­тушке 1 судят о коэрцитивной силе ОК. Такой коэрцитиметр име­ет высокую чувствительность и используется при отработке ре­жимов контроля.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 4)

 

В коэрцитиметрических установках с измерительным генера­тором, а также в феррозондовых, вибрационных и работающих по методу одергивания коэрцитиметрах размагничивающее поле со­здается с помощью катушки, внутри которой помещен ОК. Эти установки могут быть использованы при лабораторных испыта­ниях.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 3)

 

Рассмотренный процесс контроля реализован в коэрцитиметре типа КИФМ-1. Этот прибор в течение ряда лет выпускался серий­но и нашел широкое распространение в промышленности.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение 2)

 

Широкое распространение в настоящее время получили коэрцитиметры с приставным электромагнитом, наиболее удобные для применения в производственных условиях. Схема преобразователя такого коэрцитиметра показана на рис. 3.98. П – образный электро­магнит, на боковых стержнях которого размещена возбуждающая обмотка, предназначен для создания намагничивающего и раз­магничивающего полей. Феррозонд, включенный по схеме полемера, является перемычкой этого электромагнита. При пропускании постоянного тока по обмотке возбуждения намагничивается учас­ток ОК. После выключения тока в обмотке в магнитной цепи электромагнита существует остаточный магнитный поток, создаю­щий сигнал на выходе феррозонда. При пропускании по обмотке возбуждения тока противоположного на­правления начинается процесс размагни­чивания. Размагничивающий ток увели­чивают до тех пор, пока магнитный по­ток в цепи не станет равным нулю, чему соответствует отсутствие выходного сиг­нала феррозонда. Чем больше значение Нс материала, тем большим должен быть размагничивающий ток. Таким об­разом, действие коэрцитиметра"основано на использовании корреляции между раз­магничивающим током, пропорциональ­ным коэрцитивной силе, и определенны­ми механическими свойствами ОК.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение (применение)

 

Последний метод настолько близко соприкасается с вихретоковым, что представляется затруднительным отнести его к одному из этих двух видов ПК. Мы относим его к магнитному контролю, поскольку он основан на. использовании нелинейности кривой на­магничивания, и именно степень нелинейности определяет его ин­формативность.

Читать запись полностью »

Магнитные структуроскопы и их применение

При магнитном контроле физико-механических свойств объек­тов используется связь между физико-механическими и магнитны­ми параметрами. Эта связь, часто не только неоднозначная, но и нестабильная, носит корреляционный характер и возникает тогда, когда одни и те же физические и химические процессы образова­ния структуры и фазового состава ферромагнитных сталей фор­мируют также и их магнитные свойства. Сложный характер одно­временного влияния различных факторов на магнитные и физико-механические свойства ферромагнитных материалов часто не поз­воляет определить влияние каждого фактора в отдельности. По­этому в магнитной структуроскопии оценивают изменение маг­нитных параметров и по ним определяют соответствующие этим изменениям различные физико-химические или физико-механиче­ские свойства ОК. При магнитном контроле механических харак­теристик и структуры ферромагнитных материалов используют от­носительные измерения, т. е. не измеряют какой-либо магнитный или механический параметр, а только фиксируют, соответствуют ли параметры ОК заданным или отклоняются от них. Чтобы оце­нить, насколько при этом механические параметры детали отлича­ются от номинальных, нужны дополнительные сопоставления с па­раметрами специально подобранных образцов.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 11)

 

Резуль­таты измерений обрабатываются статистически: определяются среднее значение, минимальное и максимальное значения, среднее квадратическое отклонение, гистограмма и коэффициент вариа­ции серии из 999 измерений. Отпечатанный протокол измерений содержит данные о калибровке, количестве измерений, резуль­татах систематической обработки, включающих графическую часть (гистограмму, график кумулятивной функции).

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 10)

 

Множество, различных сочетаний материалов основания и по­крытия затрудняет возможность серийного изготовления стандарт­ных образцов и повышает их стоимость, которая может дости­гать 10…20% стоимости прибора. Поэтому актуальной задачей в настоящее время можно считать создание средств измерения тол­щины покрытий, которыми можно пользоваться без контрольных образцов. В последние годы появились приборы, используемые для контроля объектов с более широким сочетанием материалов по­крытия и основания и обладающие улучшенными потребительски­ми свойствами. Например, прибором «Fischerscope Magna 460» можно измерять толщину покрытий из широкого спектра материа­лов, таких, как хром, свинец, медь, кадмий, цинк, краска, пласт­массы, эмаль, резина на железе и стали. Расширение возможности приборов достигается при комбинации магнитного и вихретокового методов измерения, как, например, в приборе «Fischercope multi 650/750».

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 9)

 

Как уже отмечалось, действие всех рассмотренных магнитных толщиномеров основано на измерении сопротивления неоднород­ной магнитной цепи. Главные мешающие факторы здесь – коле­бания магнитных свойств ферромагнитного основания ОК, состоя­ние и форма его поверхности. В значительной мере влияние этих факторов определяется топографией магнитного поля, а следова­тельно, размерами и формой магнитопровода первичного преоб­разователя. Калибровка толщиномеров осуществляется с помощью стандартных контрольных образцов с различными сочетаниями материалов покрытия и основания.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 8)

 

Как было отмечено в начале параграфа, кроме рассмотренных существуют толщиномеры для измерения толщины слоев объек­тов из ферромагнитных материалов. Эти толщиномеры распрост­ранены значительно меньше из-за сложности получения высокой точности, особенно при измерении больших толщин.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 7)

 

В настоящее время отечественной промышленностью серийно выпускается толщиномер МТ-41НЦ. В НПО «Спектр» разработан более совершенный портативный толщиномер МТ-50НЦ, предназ­наченный для измерения толщины неферромагнитных покрытий (лаков, красок, гальванических покрытий из цветных металлов и т. д.), нанесенных на основание из ферромагнитных сталей. Диа­пазон   измеряемых  толщин   5… 2000   мкм,  основная  погрешность 0,3… 0,5 мкм. Толщиномер имеет встроенный имитатор, позво­ляющий осуществлять подготовку к работе без использования мер толщины

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 6)

Частота возбуждающего тока в магнитных толщиномерах обыч­но низкая, поэтому, хотя конструктивно магнитный преобразова­тель весьма похож па вихретоковый, действие его основано толь­ко на изменении сопротивления магнитной цепи. Влияние вихре­вых токов в приборах такого типа несущественно, и электропро­водимость материала практически не влияет на показания. По­этому для измерения пригодна одна и та же шкала для всех не­ферромагнитных покрытий.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 5)

 

 При установке преобразователя на поверхность ОК нарушается симметрия магнитного поля, соз­данного возбуждающей катушкой. С уменьшением толщины по­крытия t асимметрия магнитного поля возрастает и соответствен­но возрастает выходное напряжение преобразователя, несущее ин­формацию о толщине покрытия.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 4)

При контроле деталей с криволинейной поверхностью удобнее использовать однополюсные преобразователи со стержневыми маг­нитами (рис. 3.93, в). Для устранения влияния наклона преобра­зователя контактная поверхность выполняется в виде полусферы. Для повышения чувствительности магнитостатических толщиноме­ров осуществляют компенсацию начального уровня сигнала, раз­мещая магниточувствительные элементы в магнитной нейтрали либо устанавливая два дифференциально включенных преобразователя.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 3)

 

Рабочий магнитный поток Ф, создаваемый катушкой или по­стоянным; магнитом, замыкается по магнитопроводу или по возду­ху (в случае в), объекту контроля с неферромагнитным покрыти­ем, толщина которого А измеряется. По величине магнитного по­тока судят о толщине неферромагиитного покрытия, а магнитный поток определяют измеряя магнитную индукцию с помощью пер­вичного преобразователя, в качестве которого используется дат­чик Холла, феррозонд, рамка с током и др.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение 2)

 

Состояние поверхности (шероховатость) в значительной мере влияет на погрешность из­мерения толщины покрытия, поскольку по­стоянный магнит устанавливается на поверх­ность с некоторым зазором, определяемым шероховатостью. Поэтому значения приведен­ных в таблице погрешностей относятся к ОК с обработкой, определяемой шероховатостью поверхности не более Rz=20. В других слу­чаях  погрешности  нужно  пересчитывать.

Читать запись полностью »

Магнитные толщиномеры (продолжение)

 

По принципу действия магнитные толщиномеры можно разде­лить на три группы: магнитоотрывные (пондеромоторного дейст­вия), магнитостатические и индукционные»

Читать запись полностью »